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柳下技研 YGN-590-MT 是基于 超精密機械結構與光學非接觸探測 的多維幾何參數檢測裝置，核心用于 MT/MPO 多芯插芯 之復雜幾何評價。傳統單參數測試儀僅測端面曲率或偏心，而 MT 插芯要求同時控制 12/24/48 孔位各自 apex offset、纖芯相對套筒外圓同心度、孔距精度（Pitch/Focus）、角度（θ 軸 APC 8°±0.3° 等）及端面形狀誤差，任何單項超差均致光纖對準損耗劇增。
YGN-590-MT 采用 氣浮主軸（ < 0.01 µm回轉誤差） 夾持插芯旋轉，Z 軸以 激光共焦或干涉顯微頭 沿端面掃描，X-Y 精密直線臺定位各孔位。測量時先以 圖像識別或編碼索引 定位孔 1 基準，依次自轉掃描各孔，軟件擬合球面參數（R、Apex X/Y、Offset），并借由高精度線性編碼器（分辨率 1 nm）記錄 Z 向形貌。對 MT 插芯特別關鍵的是 孔距與行列偏差——YGN-590-MT 通過亞像素邊緣檢測算各孔中心距（Pitch 典型 0.25 mm × (n-1)），與理論 CAD 值比對輸出 Cpk。
關鍵參數控制點：
Apex Offset：纖芯中心相對球面頂點的平面偏移，MT 插芯要求 < 0.5 µm（GR-1435），YGN-590-MT 重復精度 ±0.01 µm 可分辨。
同心度（Concentricity）：內孔 φ125 µm 相對外圓 φ2.5 mm 中心偏，影響光纖插入損耗，裝置以氣浮回轉最小徑向跳動保證掃描對稱。
APC 角度：8° 傾角須控制 ±0.3°，裝置通過回轉臺角分辨率 0.0001° 與 Z 向微分擬合斜面。
曲率半徑 R：PC 約 10～25 mm，APC 同，R 過大/過小致接觸壓力不均，YGN-590-MT 以球面擬合算法（Least Square Sphere Fit）降低局部劃痕噪聲影響。
數據處理支持 批量自動循環、統計過程控制（SPC）輸出及 3D 形貌渲染，滿足光模塊廠對 MT 插芯供貨商之審計要求。與單點接觸式測頭比，非接觸光學法無壓痕、速度快（全孔掃描數分鐘內）、適應高反光陶瓷/樹脂復合端面。
YGN-590-MT 以柳下技研數十年超精密氣浮與光學檢測積淀，成為 MT/MPO 連接器幾何合規之金標準設備，與 YGN-590-FAVG（FA/端面綜合）、YGN-524SF（緊湊單芯）形成光纖組件全尺寸檢測覆蓋。
更新時間：2026-07-07 
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